137 results (0.011 seconds)

CVSS: 7.8EPSS: 0%CPEs: 2EXPL: 0

Bentley MicroStation and MicroStation-based applications may be affected by out-of-bounds and stack overflow issues when opening crafted XMT files. Exploiting these issues could lead to information disclosure and code execution. The fixed versions are 10.17.01.58* for MicroStation and 10.17.01.19* for Bentley View. Las aplicaciones de Bentley MicroStation y las basadas en MicroStation pueden verse afectadas por problemas de desbordamiento de pila y fuera de límites cuando abren archivos XMT diseñados. La explotación de estos problemas podría conllevar a una divulgación de información y una ejecución de código. • https://www.bentley.com/legal/common-vulnerability-exposure-be-2022-0018 • CWE-125: Out-of-bounds Read CWE-787: Out-of-bounds Write •

CVSS: 7.8EPSS: 0%CPEs: 2EXPL: 1

Bentley MicroStation and MicroStation-based applications may be affected by out-of-bounds read and stack overflow issues when opening crafted SKP files. Exploiting these issues could lead to information disclosure and code execution. The fixed versions are 10.17.01.58* for MicroStation and 10.17.01.19* for Bentley View. Las aplicaciones de Bentley MicroStation y las basadas en MicroStation pueden verse afectadas por problemas de lectura fuera de límites y desbordamiento de pila cuando son abiertos archivos SKP diseñados. La explotación de estos problemas podría conllevar a una divulgación de información y una ejecución de código. • https://github.com/iamsanjay/CVE-2022-42899 https://www.bentley.com/legal/common-vulnerability-exposure-be-2022-0017 • CWE-125: Out-of-bounds Read •

CVSS: 7.8EPSS: 0%CPEs: 2EXPL: 0

Bentley MicroStation and MicroStation-based applications may be affected by out-of-bounds read issues when opening crafted FBX files. Exploiting these issues could lead to information disclosure and code execution. The fixed versions are 10.17.01.58* for MicroStation and 10.17.01.19* for Bentley View. Las aplicaciones de Bentley MicroStation y basadas en MicroStation pueden verse afectadas por problemas de lectura fuera de límites cuando abren archivos FBX diseñados. La explotación de estos problemas podría conllevar a una divulgación de información y una ejecución de código. • https://www.bentley.com/legal/common-vulnerability-exposure-be-2022-0019 • CWE-125: Out-of-bounds Read •

CVSS: 3.3EPSS: 0%CPEs: 2EXPL: 0

An issue was discovered in Bentley MicroStation before 10.17.0.x and Bentley View before 10.17.0.x. Using an affected version of MicroStation or MicroStation-based application to open a DGN file containing crafted data can force an out-of-bounds read. Exploitation of these vulnerabilities within the parsing of DGN files could enable an attacker to read information in the context of the current process. Se ha detectado un problema en Bentley MicroStation versiones anteriores a 10.17.0.x y en Bentley View versiones anteriores a 10.17.0.x. El uso de una versión afectada de MicroStation o de una aplicación basada en MicroStation para abrir un archivo DGN que contenga datos diseñados puede forzar una lectura fuera de límites. • https://www.bentley.com/en/common-vulnerability-exposure/be-2022-0011 • CWE-125: Out-of-bounds Read •

CVSS: 3.3EPSS: 0%CPEs: 2EXPL: 0

An issue was discovered in Bentley MicroStation before 10.17.0.x and Bentley View before 10.17.0.x. Using an affected version of MicroStation or MicroStation-based application to open an FBX file containing crafted data can force an out-of-bounds read. Exploitation of these vulnerabilities within the parsing of FBX files could enable an attacker to read information in the context of the current process. Se ha detectado un problema en Bentley MicroStation versiones anteriores a 10.17.0.x y en Bentley View versiones anteriores a 10.17.0.x. El uso de una versión afectada de MicroStation o de una aplicación basada en MicroStation para abrir un archivo FBX que contenga datos diseñados puede forzar una lectura fuera de límites. • https://www.bentley.com/en/common-vulnerability-exposure/be-2022-0012 • CWE-125: Out-of-bounds Read •