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CVSS: 7.8EPSS: 0%CPEs: 534EXPL: 0

Memory corruption while processing the event ring, the context read pointer is untrusted to HLOS and when it is passed with arbitrary values, may point to address in the middle of ring element. Corrupción de la memoria al procesar el anillo de eventos, el puntero de lectura de contexto no es confiable para HLOS y cuando se pasa con valores arbitrarios, puede apuntar a la dirección en el medio del elemento del anillo. • https://www.qualcomm.com/company/product-security/bulletins/february-2024-bulletin • CWE-787: Out-of-bounds Write CWE-823: Use of Out-of-range Pointer Offset •

CVSS: 7.8EPSS: 0%CPEs: 308EXPL: 0

Memory corruption in Core when updating rollback version for TA and OTA feature is enabled. La corrupción de la memoria en Core cuando se habilita la actualización de la versión de reversión para la función TA y OTA. • https://www.qualcomm.com/company/product-security/bulletins/february-2024-bulletin • CWE-16: Configuration CWE-787: Out-of-bounds Write •

CVSS: 9.3EPSS: 0%CPEs: 496EXPL: 0

Memory corruption in Core while processing control functions. Corrupción de la memoria en Core durante el procesamiento de funciones de control. • https://www.qualcomm.com/company/product-security/bulletins/february-2024-bulletin • CWE-120: Buffer Copy without Checking Size of Input ('Classic Buffer Overflow') •

CVSS: 7.5EPSS: 0%CPEs: 202EXPL: 0

Transient DOS in Multi-Mode Call Processor while processing UE policy container. DOS transitorio en el procesador de llamadas multimodo mientras se procesa el contenedor de políticas UE. • https://www.qualcomm.com/company/product-security/bulletins/february-2024-bulletin • CWE-20: Improper Input Validation •

CVSS: 7.5EPSS: 0%CPEs: 202EXPL: 0

Transient DOS in Multi-Mode Call Processor due to UE failure because of heap leakage. DOS transitorio en el procesador de llamadas multimodo debido a una falla del UE debido a una fuga de montón. • https://www.qualcomm.com/company/product-security/bulletins/february-2024-bulletin • CWE-401: Missing Release of Memory after Effective Lifetime •